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國產利器:RapidXAFS 1M臺式X射線吸收譜儀正式上線銷售了


產品原理

RapidXAFS 1M 譜儀是采用羅蘭圓結構和高指數面晶體進行單色分光,實現X-射線吸收/發射譜譜測量,是研究材料局域原子或電子結構的一種有力工具,廣泛應用于催化、能源、納米等熱門領域。

性能特點:

?不依賴于長程有序結構,可用于非晶態材料的研究;

 ?不受其它元素干擾,可對同一材料中不同元素分別研究; 

?不受樣品狀態影響,可測量固體(晶體、粉末),液體(溶液、熔融態)和氣體等;

?對樣品無破壞,可進行原位測試; 

?能獲得高精度的配位原子種類、配位數及原子間距等結構參數,一般認為原子間距精確度可達0.01? 



XAFS,臺式X射線吸收精細結構譜儀 Rapid XAFS 1M(圖1)

XAFS譜主要包括兩部分: X射線吸收近邊結構 (XANES) 和擴展X射線吸收精細結構(EXAFS) EXAFS的能量范圍大概在吸收邊后50 eV1000 eV, 來源于射線激發出來的內層光電子在周圍原子與吸收原子之間的單電子單次散射效應的結果。XANES包含了吸收邊前約10 eV 至吸收邊后約50 eV的范圍,其主要來源于射線激發出的內殼層光電子在周圍原子與吸收原子之間的單電子多重散射效應。


產品優勢

多功能:提供科研級高質量XAFS/XES圖譜

高性能1小時內完成1%含量樣品測試

高光通量:>1000,000 photons/sec@8Kev

配置靈活:可根據客戶要求定制樣品池,實現高溫高壓,低溫低壓,各種氣氛條件下對反應過程原位觀察

簡單易用:只需半天培訓即可上機操作

自主可控:90%部件自主可控,無政策風險

低維護成本:無需專人維護、操作、管理等


 XAFS/XES數據已成為了頂級期刊的“標配”,致使越來越多課題組需要XAFS測試。秉持著讓XAFS/XES走進每個實驗室的理念,推出全新的X射線吸/發射收譜儀平臺(RapidXAFS 1M)。

RapidXAFS 1M 具有如下特點:

1.無需同步輻射光源即可提供XAFS測試; 

2.臺式體積,可放置于實驗室內隨時使用,極大節省了科研等待時間; 

3.實現對催化劑的局域結構、價態分析; 

4.實現原位測量(高溫高壓,低溫低壓,各種氣氛條件下)條件下對反應過程原位觀察,堪比高性能版本的靜常壓光電子能譜;


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